產品說明
立管和旁通管的使用可以解決攪拌扇葉對導波探測組件造成的影響經常見于化工反應容器，比如石化行業。
當然在這種測量環境中，導波雷達的測量具有很多的優勢。
立管和旁通管能夠增強導波雷達接收信號的強度。
旁通管的側面連接開口，罐內沉淀物或腐蝕性物質對測量結果都不會有影響。
另外產品能夠在高達400℃的環境及40MP壓力下進行測量，即使是標準產品，也能夠在150℃的環境下進行測量。
詳細參數
| 應 用 |
高溫高壓液體測量 |
| 最大量程 |
30米 |
| 精 確 度 |
± 3mm |
| 過程連接 |
螺紋 G1?A／螺紋 1?NPT |
| 傳感器材質 |
不銹鋼316/陶瓷 |
| 過程溫度 |
石墨陶瓷：-196…280℃／石墨陶瓷：-196…400℃／石墨陶瓷：-196…450℃ |
| 過程壓力 |
(真空...40)MPa |
| 輸出信號 |
(4...20)mA/HART |
| 電 源 |
兩線制：DC24V／四線制：DC24V/AC220V |
對比非同類產品的產品優勢
- 相對于超聲波原理儀表而言，導波式微波雷達物位計不受壓力變化、真空、溫度變化、惰性氣體、煙塵、
蒸汽等環境影響，測量結果穩定可靠。可以在最高400℃，最大壓力40Mpa環境下工作。
- 相對于非接觸方式雷達物位計而言，導波式微波雷達物位計電磁波信號沿著探測組件(探桿或探測纜繩)進行傳播，
所以受到測量環境中水蒸氣和粉塵等因素的影響較小。
沿著探測組件進行傳播的微波信號對于波動的界面仍然具有同樣的反射性能，
所以幾乎不受物料波動影響。接觸性測量方式使得信號反射能力更強，可以測量介電常數更低的介質。
接觸測量方式使得信號反射更可靠，從而不會出現失波現象。
- 相對于電容式物位計而言，無需空罐滿罐標定，直接使用，現場操作簡便。
測量結果不受介電常數變化影響。
當被測介質是成分不清楚或者是成分比例隨時改變的混合物時，也能夠進行可靠測量。
- 相對于磁翻板、磁致伸縮、重錘、鋼帶或浮球等液位計而言，
導波式微波雷達物位計不依賴機械運動進行測量，沒有活動部件，可靠性高，壽命長。
對比同類產品的產品優勢
- 儀表采用等效采樣脈沖測距專利技術，提高了信號的分辨率和靈敏度，
使儀表具有高精度、測量靈敏、刷新速度快等優勢。
- 儀表液晶操作單元為128*64圖形點陣液晶，支持全中文菜單、
波形顯示等復雜操作功能。降低現場儀表操作難度和維護工作量。
- 液晶顯示單元可以外接25米，從而構成罐旁操作單元。降低大型罐體、高溫、
高壓、有毒等高危險區域儀表日常巡檢工作的風險和勞動強度。
- 國內首家推出基于HART通訊的遠程操作單元，可以外接1000米，
從而彌補傳統罐旁顯示操作單元在通訊距離上的不足。
- 國內首家推出具有波形顯示功能雷達專用的HART手操器，
通過使用雷達專用的HART手操器可以實現在中控室直接觀察雷達波形并進行調試，
大大降低現場調試的危險和勞動強度。
- 國內首家推出具有無線通訊功能導波式微波雷達物位計，
可支持GPRS無線傳輸和CMesh多跳自組織無線組網傳輸。
是物位測量接入物聯網的首選產品。
測量原理
HGMW7X系列導波式微波雷達物位計是基于時間行程原理的電磁波測距系統。
儀表探頭發出的1GHz的微功率電磁波信號沿著探測組件(探桿或探測纜繩)以光速進行傳播。
當電磁波接觸到被測物質表面時，由于介電常數發生突變，電磁波被反射回來。
反射回來的電磁波沿著探測組件傳播，并返回到儀表探頭。
電磁波的發射與接收的時間間隔與儀表探頭到被測介質的距離成正比，
由此能夠計算出儀表探頭到被測介質表面的距離。
